Supervision Patterns in Discrete Event Systems Diagnosis - Inria - Institut national de recherche en sciences et technologies du numérique Accéder directement au contenu
Rapport (Rapport De Recherche) Année : 2006

Supervision Patterns in Discrete Event Systems Diagnosis

Résumé

In this paper, we are interested in the diagnosis of discrete event systems modeled by finite transition systems. We propose a model of supervision patterns general enough to capture past occurrences of particular trajectories of the system. Modeling the diagnosis objective by supervision patterns allows us to generalize the properties to be diagnosed and to render them independent of the description of the system. We first formally define the diagnosis problem in this context. We then derive techniques for the construction of a diagnoser and for the verification of the diagnosticability based on standard operations on transition systems. We show that these techniques are general enough to express and solve in a unified way a broad class of diagnosis problems found in the literature, e.g. diagnosing permanent faults, multiple faults, fault sequences and some problems of intermittent faults. \\ Dans cet article, nous nous intéressons au diagnostic dans les systèmes de transition finis. Nous proposons un modèle de motifs de surveillance correspondant à des propriétés d'atteignabilité. Ceci permet de généraliser les propriétés à diagnostiquer tout en les découplant de la description du système. Nous en déduisons des techniques de vérification de diagnosticabilité et de construction de diagnostiqueur fondées sur des opérations standards sur les systèmes de transitions. Nous montrons que ces techniques sont suffisamment générales pour exprimer et résoudre de manière unifiée une classe importante de problèmes de diagnostic considérés dans la littérature comme le diagnostic de pannes permanentes, de pannes multiples, de séquences de pannes, et certains problèmes de diagnostic de pannes intermittentes.
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Dates et versions

inria-00001113 , version 1 (14-02-2006)

Identifiants

  • HAL Id : inria-00001113 , version 1

Citer

Thierry Jéron, Hervé Marchand, Sophie Pinchinat, Marie-Odile Cordier. Supervision Patterns in Discrete Event Systems Diagnosis. [Research Report] PI 1784, 2006, pp.16. ⟨inria-00001113⟩
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