Fast sampling of implicit surfaces by particle systems - Inria - Institut national de recherche en sciences et technologies du numérique Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2006

Fast sampling of implicit surfaces by particle systems

Résumé

Particle systems, as originally proposed by Witkin and Heckbert, are a powerful way to sample implicit surfaces since they generate almost evenly distributed samples over the surface, thanks to a global minimization of an energy criterion. Nonetheless, due to the computational cost of the relaxation process, the sampling process becomes rather expensive when the number of samples exceeds a few thousands. In this paper, we propose a technique that only relies on a pure geometry processing which enables us to rapidly generate the set of final particles (e.g., half a second to generate 5,000 particles for an analytic implicit surface) with near-optimal positions. Because of its characteristics, the technique does not need the usual split-and-death criterion anymore and only about ten relaxation steps are necessary to get a high quality sampling. Either uniform or non-uniform sampling can be performed with our technique.
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Dates et versions

inria-00106853 , version 1 (16-10-2006)
inria-00106853 , version 2 (27-10-2013)

Identifiants

Citer

Floriant Levet, Xavier Granier, Christophe Schlick. Fast sampling of implicit surfaces by particle systems. SMI '06: Proceedings of the IEEE International Conference on Shape Modeling and Applications 2006, Jun 2006, Matsushima, Japan. pp.39, ⟨10.1109/SMI.2006.13⟩. ⟨inria-00106853v2⟩
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