Off-line Test Selection with Test Purposes for Non-Deterministic Timed Automata - Inria - Institut national de recherche en sciences et technologies du numérique Accéder directement au contenu
Rapport (Rapport De Recherche) Année : 2011

Off-line Test Selection with Test Purposes for Non-Deterministic Timed Automata

Résumé

This report proposes novel off-line test generation techniques for non-deterministic timed automata with inputs and outputs (TAIOs) in the formal framework of the tioco conformance theory. In this context, a first problem is the determinization of TAIOs, which is necessary to foresee next enabled actions, but is in general impossible. This problem is solved here thanks to an approximate determinization using a game approach, which preserves tioco and guarantees the soundness of generated test cases. A second problem is test selection for which a precise description of timed behaviors to be tested is carried out by expressive test purposes modeled by a generalization of TAIOs. Finally, using a symbolic co-reachability analysis guided by the test purpose, test cases are generated in the form of TAIOs equipped with verdicts.
Ce rapport propose de nouvelles techniques de génération de tests pour des automates temporisés avec entrées et sorties (TAIOs for {\em timed automata with inputs and outputs}) dans le cadre formel de la théorie du test de conformité tioco. Dans ce contexte, un premier problème consiste en la déterminisation des TAIOs, nécessaire pour prévoir les prochaines actions tirables, mais en général impossible. Ce problème est résolu grâce à une déterminisation approchée fondée sur la théorie des jeux, préservant tioco et garantissant la correction des cas de tests générés. Le second problème est celui de la sélection de tests pour lequel une description précise des comportements temporisés à tester est fournie par des objectifs de tests expressifs modélisés par une généralisation des TAIOs. Enfin, grâce à une analyse symbolique de co-accessibilité guidée par les objectifs de tests, les cas de tests sont générés sous la forme de TAIOs équipés de verdicts.
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Dates et versions

inria-00550923 , version 1 (31-12-2010)

Identifiants

  • HAL Id : inria-00550923 , version 1

Citer

Nathalie Bertrand, Thierry Jéron, Amélie Stainer, Moez Krichen. Off-line Test Selection with Test Purposes for Non-Deterministic Timed Automata. [Research Report] RR-7501, INRIA. 2011, pp.20. ⟨inria-00550923⟩
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