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inria-00404807, version 1

BPSK bit error outage over Nakagami-m fading channels in lognormal shadowing environments

Philippe Mary 1, Mischa Dohler 2, Jean-Marie Gorce (Auteur à contacter de préférence) a3, Guillaume Villemaud () a3, Maryline Arndt 1

IEEE Communications Letters 11, 7 (2007) 565-567

Résumé : In this letter, we address the problem of finding a tractable expression for the bit-error outage (BEO) defined as the probability to observe a given average bit error rate (BER) over a fading channel in a shadowing environment. Our contribution is two-fold: (1) a simple yet tight approximation of the bit error probability (BEP) for binary phase shift keying (BPSK) over a frequency-flat Nakagami-m fading channel is derived, which (2) facilitates the derivation of a tight lower bound of the BEO in presence of lognormal shadowing in closed form. Theoretical results are corroborated by means of simulation results, confirming the tightness of the bounds.

  • a –  INSA - Institut National des Sciences Appliquées
  • 1 :  France Télécom Recherche & Développement (FT R&D)
  • France Télécom
  • 2 :  Centre Tecnològic de Telecomunicacions de Catalunya (CTTC)
  • CTTC
  • 3 :  ARES (CITI Insa Lyon / INRIA Grenoble Rhône-Alpes)
  • INRIA – Institut National des Sciences Appliquées (INSA) - Lyon
  • Domaine : Informatique/Réseaux et télécommunications
 
  • inria-00404807, version 1
  • oai:hal.inria.fr:inria-00404807
  • Contributeur : 
  • Soumis le : Vendredi 17 Juillet 2009, 11:11:11
  • Dernière modification le : Mardi 16 Février 2010, 19:58:43