Wireless Wafer Test for Iterative Testing During System Assembly

Ziad Noun; Philippe Cauvet; Marie-Lise Flottes; David Andreu; Serge Bernard

lirmm-00537849, version 1

Wireless Wafer Test for Iterative Testing During System Assembly

Ziad Noun ¹, Philippe Cauvet ², Marie-Lise Flottes (, ) ¹, David Andreu () ^1, 3, Serge Bernard (, ) ¹

3D-Test: First IEEE International Workshop on Testing Three-Dimensional Stacked Integrated Circuits N/A

1 : Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier (LIRMM)
CNRS : UMR5506 – Université Montpellier II - Sciences et techniques
2 : Ophtimalia
industriel
3 : DEMAR (INRIA Sophia Antipolis)
INRIA – CNRS : UMR5506 – Université Montpellier II - Sciences et techniques – Université Montpellier I

lirmm-00537849, version 1
http://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00537849
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Contributeur : Martine Peridier <>
Soumis le : Vendredi 19 Novembre 2010, 15:18:23
Dernière modification le : Vendredi 19 Novembre 2010, 16:08:13

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