Trace-Based Statistical Response-Time Analysis of Complex Real-Time Embedded Systems

Lu Yue 1, 2 Ian Bate 3 Thomas Nolte 1 Liliana Cucu-Grosjean 2
2 TRIO - Real time and interoperability
INRIA Lorraine, LORIA - Laboratoire Lorrain de Recherche en Informatique et ses Applications
Type de document :
Communication dans un congrès
Work in Progress of the 6th IEEE Symposium on Industrial Embedded Systems (SIES 2011), 2011, Vasteras, Sweden. 2011
Liste complète des métadonnées

https://hal.inria.fr/hal-00647016
Contributeur : Liliana Cucu <>
Soumis le : jeudi 1 décembre 2011 - 11:36:10
Dernière modification le : jeudi 11 janvier 2018 - 06:20:05

Identifiants

  • HAL Id : hal-00647016, version 1

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Citation

Lu Yue, Ian Bate, Thomas Nolte, Liliana Cucu-Grosjean. Trace-Based Statistical Response-Time Analysis of Complex Real-Time Embedded Systems. Work in Progress of the 6th IEEE Symposium on Industrial Embedded Systems (SIES 2011), 2011, Vasteras, Sweden. 2011. 〈hal-00647016〉

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