Utilisation de la technologie RFID chipless pour la mesure de déformation de réflecteurs

Résumé : no abstract
Type de document :
Communication dans un congrès
18èmes Journées Nationales Microondes, May 2013, Paris, France. 2013
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https://hal.inria.fr/hal-01057165
Contributeur : Valence Lcis <>
Soumis le : jeudi 21 août 2014 - 15:54:08
Dernière modification le : jeudi 21 août 2014 - 15:54:08

Identifiants

  • HAL Id : hal-01057165, version 1

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UGA | LCIS

Citation

Emna Bel-Kamel, Etienne Perret, Arnaud Vena, Smail Tedjini. Utilisation de la technologie RFID chipless pour la mesure de déformation de réflecteurs. 18èmes Journées Nationales Microondes, May 2013, Paris, France. 2013. 〈hal-01057165〉

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