Caractérisation expérimentale de SSF dans un guide d'ondes
Résumé
La possibilité de caractériser expérimentalement des surfaces sélectives en fréquence (SSF) dans un guide d'ondes est discutée et démontrée. Des résultats de simulations numériques et de mesures sont présentés pour cinq configurations différentes. Pour les SSF doublement symétriques, leur comportement est quasiment identique dans un guide d'ondes à celui en espace libre. Les fréquences centrales de coupure varient entre 0,2 et 2,5%, alors que les niveaux différent au plus que de 1dB. Pour des structures plus complexes, un bon accord entre simulation et mesure dans un guide d'ondes a été obtenu. Ceci montre qu'une caractérisation rapide de la qualité de fabrication est ainsi possible avec des échantillons de petite taille.