Identification of dynamic nonlinear thermal transfers for precise correction of bias induced by temperature variations

Céline Casenave 1 Gérard Montseny 1 Henri Camon 2 François Blard 2
1 LAAS-MRS
LAAS - Laboratoire d'analyse et d'architecture des systèmes [Toulouse]
2 LAAS-N2IS - Équipe Nano Ingénierie et Intégration des Systèmes
LAAS - Laboratoire d'analyse et d'architecture des systèmes [Toulouse]
Abstract : We present a least squares method for dynamic correction of biases induced by temperature variations when very high precision is required. This method is based on a simple dynamic model allowing to take into account the macroscopic effects of complex underlying thermal phenomena inside the device
Type de document :
Communication dans un congrès
Symposium on Design, Test, Integration & Packaginf of MEMS/MOEMS (DTIP 2010), May 2010, Seville, Spain. pp.376-381, 2010, 〈http://ieeexplore.ieee.org/xpl/articleDetails.jsp?tp=&arnumber=5486497&url=http://ieeexplore.ieee.org/xpls/abs_all.jsp?arnumber=5486497〉
Liste complète des métadonnées

Littérature citée [7 références]  Voir  Masquer  Télécharger

https://hal.inria.fr/hal-01061525
Contributeur : Céline Casenave <>
Soumis le : dimanche 7 septembre 2014 - 14:19:28
Dernière modification le : jeudi 11 janvier 2018 - 06:26:49
Document(s) archivé(s) le : lundi 8 décembre 2014 - 10:11:47

Fichier

Preprint_Casenave_et_al._-_201...
Fichiers produits par l'(les) auteur(s)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01061525, version 1

Citation

Céline Casenave, Gérard Montseny, Henri Camon, François Blard. Identification of dynamic nonlinear thermal transfers for precise correction of bias induced by temperature variations. Symposium on Design, Test, Integration & Packaginf of MEMS/MOEMS (DTIP 2010), May 2010, Seville, Spain. pp.376-381, 2010, 〈http://ieeexplore.ieee.org/xpl/articleDetails.jsp?tp=&arnumber=5486497&url=http://ieeexplore.ieee.org/xpls/abs_all.jsp?arnumber=5486497〉. 〈hal-01061525〉

Partager

Métriques

Consultations de la notice

87

Téléchargements de fichiers

68