Test generation with SMT solvers in Model Based Testing - Inria - Institut national de recherche en sciences et technologies du numérique Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Journal of Software Testing, Verification and Reliability Année : 2014

Test generation with SMT solvers in Model Based Testing

Domaines

Génie logiciel [cs.SE]

Fabrice Bouquet  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://inria.hal.science/hal-01093461

Soumis le : mercredi 10 décembre 2014-16:30:08

Dernière modification le : lundi 11 septembre 2023-17:41:18

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Dates et versions

hal-01093461 , version 1 (10-12-2014)

Identifiants

Citer

Jérome Cantenot, Fabrice Ambert, Fabrice Bouquet. Test generation with SMT solvers in Model Based Testing. Journal of Software Testing, Verification and Reliability, 2014, 24 (7), pp.33. ⟨10.1002/stvr.1537⟩. ⟨hal-01093461⟩

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