Modeling Local and Global Deformations in Deep Learning: Epitomic Convolution, Multiple Instance Learning, and Sliding Window Detection

Type de document :
Communication dans un congrès
IEEE Conference on Computer Vision and Pattern Recognition, Jun 2015, Boston, United States
Liste complète des métadonnées

https://hal.inria.fr/hal-01263611
Contributeur : Iasonas Kokkinos <>
Soumis le : mercredi 27 janvier 2016 - 21:43:29
Dernière modification le : samedi 18 février 2017 - 01:14:36

Identifiants

  • HAL Id : hal-01263611, version 1

Citation

George Papandreou, Iasonas Kokkinos, Pierre-André Savalle. Modeling Local and Global Deformations in Deep Learning: Epitomic Convolution, Multiple Instance Learning, and Sliding Window Detection . IEEE Conference on Computer Vision and Pattern Recognition, Jun 2015, Boston, United States. 〈hal-01263611〉

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