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Communication Dans Un Congrès Année : 2015

Modeling Local and Global Deformations in Deep Learning: Epitomic Convolution, Multiple Instance Learning, and Sliding Window Detection

Domaines

Vision par ordinateur et reconnaissance de formes [cs.CV]

Iasonas Kokkinos  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://inria.hal.science/hal-01263611

Soumis le : mercredi 27 janvier 2016-21:43:29

Dernière modification le : mercredi 15 mars 2023-08:56:16

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01263611 , version 1 (27-01-2016)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01263611 , version 1

Citer

George Papandreou, Iasonas Kokkinos, Pierre-André Savalle. Modeling Local and Global Deformations in Deep Learning: Epitomic Convolution, Multiple Instance Learning, and Sliding Window Detection . IEEE Conference on Computer Vision and Pattern Recognition, Jun 2015, Boston, United States. ⟨hal-01263611⟩

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