Measurement of thicknesses and optical properties of thin films from Surface Plasmon Resonance (SPR)

Abstract : no abstract
Keywords : IP
Liste complète des métadonnées

https://hal.inria.fr/hal-01441510
Contributeur : Dominique Barchiesi <>
Soumis le : jeudi 19 janvier 2017 - 18:13:40
Dernière modification le : mardi 27 février 2018 - 14:40:04

Identifiants

Citation

J. Salvi, Dominique Barchiesi. Measurement of thicknesses and optical properties of thin films from Surface Plasmon Resonance (SPR). Applied physics. A, Materials science & processing, Springer Verlag, 2014, 115 (1), pp.245-255. 〈10.1007/s00339-013-8038-z〉. 〈hal-01441510〉

Partager

Métriques

Consultations de la notice

164