Machine Learning Techniques to Predict Sensitive Patterns to Fault Attack in the Java Card Application

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Article dans une revue
Journal of Experimental and Theoretical Artificial Intelligence, Taylor & Francis, In press
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https://hal.inria.fr/hal-01645392
Contributeur : Jean-Louis Lanet <>
Soumis le : jeudi 23 novembre 2017 - 08:05:39
Dernière modification le : jeudi 12 avril 2018 - 01:58:42

Identifiants

  • HAL Id : hal-01645392, version 1

Citation

Yayaoui Cheherazed, Jean-Louis Lanet, Mohamed Mezghiche, Karim Tamine. Machine Learning Techniques to Predict Sensitive Patterns to Fault Attack in the Java Card Application. Journal of Experimental and Theoretical Artificial Intelligence, Taylor & Francis, In press. 〈hal-01645392〉

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