Thibaud Toullier, Jean Dumoulin, Laurent Mevel. Etude de sensibilité de différentes méthodes de séparation pour l’évaluation simultanée de l’émissivité et de la température par thermographie infrarouge multispectrale.
26eme congrès français de thermique – Thermique et Science de l’information, May 2018, Pau, France. pp.1-8.
⟨hal-01890285⟩