Communication Dans Un Congrès
Année : 2018
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https://inria.hal.science/hal-01973626
Soumis le : mardi 8 janvier 2019-14:28:55
Dernière modification le : jeudi 4 avril 2024-21:42:00
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Identifiants
- HAL Id : hal-01973626 , version 1
- DOI : 10.5220/0006829200150024
Citer
Cyril Guedj, Léonard Jaillet, François Rousse, Stephane Redon. Atomistic Modelling and Simulation of Transmission Electron Microscopy Images: Application to Intrinsic Defects of Graphene. SIMULTECH 2018 - 8th International Conference on Simulation and Modeling Methodologies, Technologies and Applications, Jul 2018, Porto, Portugal. ⟨10.5220/0006829200150024⟩. ⟨hal-01973626⟩
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