, * rajarshi.sinharoy@cemes.fr, lionel.calmels@cemes.fr

S. R. Ovshinsky, Phys. Rev. Lett, vol.21, p.1450, 1968.

G. W. Burr, R. M. Shelby, A. Sebastian, S. Kim, S. Kim et al., Advances in Physics: X, vol.2, p.89, 2017.

P. Noé, C. Valle, F. Hippert, F. Fillot, and J. Raty, Semiconductor Science and Technology, vol.33, p.13002, 2018.

N. Yamada, E. Ohno, K. Nishiuchi, N. Akahira, and M. Takao, J. Appl. Phys, vol.69, p.2849, 1991.

D. Lencer, M. Salinga, B. Grabowski, T. Hickel, J. Neugebauer et al., Nature Materials, vol.7, p.972, 2008.

M. H. Lankhorst, B. W. Ketelaars, and R. A. Wolters, Nature Materials, vol.4, p.347, 2005.

M. Wuttig and N. Yamada, review Article, vol.6, 2007.

N. Yamada, MRS Bulletin, vol.21, p.4850, 1996.

T. Matsunaga, R. Kojima, N. Yamada, K. Kifune, Y. Kubota et al., Inorg. Chem, vol.45, p.16499389, 2006.

M. Wuttig, D. Lüsebrink, D. Wamwangi, W. Welnic, M. Gilleßen et al., Nature Materials, vol.6, p.article, 2006.

J. L. Silva, A. Walsh, and H. Lee, Phys. Rev. B, vol.78, p.224111, 2008.

B. Sa, J. Zhou, Z. Song, Z. Sun, and R. Ahuja, Phys. Rev. B, vol.84, p.85130, 2011.

B. Sa, J. Zhou, Z. Sun, J. Tominaga, and R. Ahuja, Phys. Rev. Lett, vol.109, p.96802, 2012.

E. Morales-sánchez, E. F. Prokhorov, A. Mendozagalván, and J. González-hernández, J. Appl. Phys, vol.91, 2002.

T. Nonaka, G. Ohbayashi, Y. Toriumi, Y. Mori, and H. Hashimoto, Thin Solid Films, vol.370, p.258, 2000.

T. Matsunaga, N. Yamada, and Y. Kubota, Acta Crystallographica Section B, vol.60, p.685, 2004.

A. Lotnyk, S. Berntz, X. Sun, U. Ross, M. Ehrhardt et al., Acta Materialia, vol.105, p.1, 2016.

B. Zhang, W. Zhang, Z. Shen, Y. Chen, J. Li et al., Appl. Phys. Lett, vol.108, p.191902, 2016.

V. Bragaglia, F. Arciprete, W. Zhang, A. M. Mio, E. Zallo et al., Scientific Reports, vol.6, p.23843, 2016.

S. He, L. Zhu, J. Zhou, and Z. Sun, Inorg. Chem, vol.56, p.28933542, 2017.

I. Hilmi, A. Lotnyk, J. W. Gerlach, P. Schumacher, and B. Rauschenbach, Materials & Design, vol.115, p.138, 2017.

Z. Sun, J. Zhou, and R. Ahuja, Phys. Rev. Lett, vol.96, p.55507, 2006.

X. Q. Liu, X. B. Li, L. Zhang, Y. Q. Cheng, Z. G. Yan et al., Phys. Rev. Lett, vol.106, p.25501, 2011.

J. Raty, C. Bichara, R. Mazzarello, P. Rausch, P. Zalden et al., Phys. Rev. Lett, vol.108, p.239601, 2012.

P. Fons, A. V. Kolobov, J. Tominaga, S. Kohara, M. Takata et al., Phys. Rev. Lett, vol.108, p.239603, 2012.

J. Kalikka, J. Akola, J. Larrucea, and R. O. Jones, Phys. Rev. B, vol.86, p.144113, 2012.

I. Ronneberger, W. Zhang, H. Eshet, and R. Mazzarello, Advanced Functional Materials, vol.25, p.6407, 2015.

J. Kalikka, J. Akola, and R. O. Jones, Phys. Rev. B, vol.94, p.134105, 2016.

W. K. Njoroge, H. Wltgens, and M. Wuttig, J. Vac. Sci. Technol. A, vol.20, p.230, 2002.

I. I. Petrov, R. M. Iamov, and Z. G. Pinsker, Sov. Phys. Crystallogr, vol.13, p.339, 1968.

B. J. Kooi and J. T. De-hosson, J. Appl. Phys, vol.92, 2002.

K. Shportko, S. Kremers, M. Woda, D. Lencer, J. Robertson et al., Nature Materials, vol.7, p.653, 2008.

T. Kato and K. Tanaka, Jpn. J. Appl. Phys, vol.44, p.7340, 2005.

B. Lee, J. R. Abelson, S. G. Bishop, D. Kang, B. Cheong et al., J. Appl. Phys, vol.97, p.93509, 2005.

J. Akola and R. O. Jones, Phys. Rev. B, vol.76, p.235201, 2007.

S. Caravati, M. Bernasconi, T. D. Khne, M. Krack, and M. Parrinello, Journal of Physics: Condensed Matter, vol.21, p.255501, 2009.

J. Akola and R. O. Jones, Phys. Status Solidi B, vol.249, p.1851, 2012.

C. Pauly, M. Liebmann, A. Giussani, J. Kellner, S. Just et al., Appl. Phys. Lett, vol.103, p.243109, 2013.

J. Kellner, G. Bihlmayer, M. Liebmann, S. Otto, C. Pauly et al., Communications Physics, vol.1, p.5, 2018.

M. Agati, F. Renaud, D. Benoit, A. Claverie, and . Commun, , vol.8, p.11451152, 2018.

S. Privitera, E. Rimini, C. Bongiorno, R. Zonca, A. Pirovano et al., J. Appl. Phys, vol.94, p.4409, 2003.

G. Navarro, M. Cou, A. Kiouseloglou, P. Noé, F. Fillot et al., IEEE International Electron Devices Meeting, 2013.

P. Zuliani, E. Varesi, E. Palumbo, M. Borghi, I. Tortorelli et al., IEEE Transactions on Electron Devices, vol.60, p.4020, 2013.

N. Yamada and T. Matsunaga, J. Appl. Phys, vol.88, 2000.

K. Choi, S. Yoon, N. Lee, S. Lee, Y. Park et al., Thin Solid Films, vol.516, p.8810, 2008.

S. Yoon, K. Choi, N. Lee, S. Lee, Y. Park et al., Jpn. J. Appl. Phys, vol.46, p.7225, 2007.

T. Yang, I. Park, H. You, S. Oh, K. Yi et al., J. Electrochem. Soc, vol.156, 2009.

S. Privitera, C. Bongiorno, E. Rimini, and R. Zonca, Appl. Phys. Lett, vol.84, p.4448, 2004.

Y. Lai, B. Qiao, J. Feng, Y. Ling, L. Lai et al., Journal of Electronic Materials, vol.34, p.176, 2005.

Y. Kim, K. Jeong, M. Cho, U. Hwang, H. S. Jeong et al., Appl. Phys. Lett, vol.90, p.171920, 2007.

M. Jung, Y. M. Lee, H. Kim, and M. G. Kim,

M. Ko and . Han, Appl. Phys. Lett, vol.91, p.83514, 2007.

R. M. Shelby and S. Raoux, J. Appl. Phys, vol.105, p.104902, 2009.

E. Cho, S. Han, D. Kim, H. Horii, and H. ,

N. , J. Appl. Phys, vol.109, p.43705, 2011.

K. Kim, J. Park, J. Chung, S. A. Song, M. Jung et al., Appl. Phys. Lett, vol.89, p.243520, 2006.

S. Kim, J. Choi, S. Lee, B. Cheong, D. S. Jeong et al., J. Appl. Phys, vol.107, p.103522, 2010.

S. Caravati, D. Colleoni, R. Mazzarello, T. D. Khne, M. Krack et al., Journal of Physics: Condensed Matter, vol.23, p.265801, 2011.

T. H. Jeong, M. R. Kim, H. Seo, J. W. Park, and C. Yeon, Jpn. J. Appl. Phys, vol.39, p.2775, 2000.

H. Seo, T. Jeong, J. Park, C. Yeon, S. Kim et al., Jpn. J. Appl. Phys, vol.39, p.745, 2000.

E. M. Vinod, K. Ramesh, and K. S. Sangunni, Scientific Reports, vol.5, p.8050, 2015.

C. Koch, A. Hansen, T. Dankwort, G. Schienke, M. Paulsen et al., , vol.7, p.17164, 2017.

T. Park, S. Choi, and M. Kang, the Third International Symposium on Dry Process, vol.515, 2005.

P. Lazarenko, P. Nguyen, H. , S. Kozyukhin, and A. Sherchenkov, , vol.13, p.1400, 2011.

A. Sherchenkov, S. Kozyukhin, A. Babich, and P. Lazarenko, iSNOG 2012 Proceedings of the 18th International Symposium on Non-Oxide and New Optical Glasses Rennes, vol.377, 2012.

P. I. Lazarenko, A. A. Sherchenkov, S. S. Kozyukhin, M. Y. Shtern, S. P. Timoshenkov et al., Proc.SPIE, vol.9440, p.9440, 2014.

S. Kozyukhin, A. Sherchenkov, A. Babich, P. Lazarenko, H. P. Nguyen et al., Can. J. Phys, vol.92, 2014.

K. Wang, C. Steimer, D. Wamwangi, S. Ziegler, M. Wuttig et al., Microsystem Technologies, vol.13, p.203, 2007.

S. Kozyukhin, M. Veres, H. Nguyen, A. Ingram, and V. Kudoyarova, 10th International Conference on Solid State Chemistry, vol.44, 2013.

J. M. Skelton, A. R. Pallipurath, T. Lee, and S. R. Elliott, Advanced Functional Materials, vol.24, p.7291, 2014.

X. Cheng, L. Bo, S. Zhi-tang, F. Song-lin, and C. Bomy, Chinese Physics Letters, vol.22, pp.2929-2932, 2005.

K. Wang, D. Wamwangi, S. Ziegler, C. Steimer, M. J. Kang et al., Phys. Status Solidi A, vol.201, p.3045, 2004.

T. J. Park, D. H. Kim, S. M. Yoon, K. J. Choi, N. Y. Lee et al., Jpn. J. Appl. Phys, vol.45, p.1273, 2006.

M. L. Lee, K. T. Yong, C. L. Gan, L. H. Ting, S. B. Daud et al., J. Phys. D, vol.41, p.215402, 2008.

J. Zhou, Z. Sun, L. Xu, and R. Ahuja, Solid State Commun, vol.148, p.113, 2008.

G. Singh, A. Kaura, M. Mukul, and S. K. Tripathi, Journal of Materials Science, vol.48, p.299, 2013.

N. Bai, F. Liu, X. Han, Z. Zhu, F. Liu et al., Applied Surface Science, vol.316, p.202, 2014.

S. Welzmiller, T. Rosenthal, P. Ganter, L. Neudert, F. Fahrnbauer et al., Dalton Trans, vol.43, p.10529, 2014.

B. Qiao, J. Feng, Y. Lai, Y. Ling, Y. Lin et al., Applied Surface Science, vol.252, p.8404, 2006.

Q. Bao-wei, F. Jie, L. Yun-feng, L. Yun, L. Yin-yin et al., Chinese Physics Letters, vol.23, p.172, 2006.

Y. Ling, Y. Lin, B. Qiao, Y. Lai, J. Feng et al., Jpn. J. Appl. Phys, vol.45, p.349, 2006.

J. Feng, Y. Zhang, B. Qiao, Y. Lai, Y. Lin et al., Applied Physics A, vol.87, p.57, 2007.

T. Zhang, Z. Song, B. Liu, S. Feng, and B. Chen, SolidState Electronics, vol.51, p.950, 2007.

T. Zhang, Z. Song, F. Rao, G. Feng, B. Liu et al., Jpn. J. Appl. Phys, vol.46, p.247, 2007.

S. Park, I. Kim, S. Kim, S. Yoon, B. Yu et al., Semiconductor Science and Technology, vol.23, p.105006, 2008.

S. Jeong, K. Kim, S. Choi, and H. Lee, Jpn. J. Appl. Phys, vol.48, p.45503, 2009.

Y. Jiang, L. Xu, J. Chen, R. Zhang, W. Su et al., Phys. Status Solidi A, vol.210, p.2231, 2013.

H. Ebert, The Munich SPR-KKR package (version, vol.6

H. Ebert, D. Kdderitzsch, and J. Minr, Rep. Prog. Phys, vol.74, p.96501, 2011.

P. Soven, Phys. Rev, vol.156, p.809, 1967.

G. K. Madsen and D. J. Singh, Comput. Phys. Commun, vol.175, p.67, 2006.

J. S. Faulkner and G. M. Stocks, Phys. Rev. B, vol.21, p.3222, 1980.

H. Ebert, A. Vernes, and J. Banhart, Solid State Commun, vol.104, p.243, 1997.

R. Kubo, J. Phys. Soc. Jpn, vol.12, 1957.

D. A. Greenwood, Proc. Phys. Soc, vol.71, p.585, 1958.

W. H. Butler, Phys. Rev. B, vol.31, p.3260, 1985.

B. Velický, Phys. Rev, vol.184, p.614, 1969.

J. P. Perdew, K. Burke, and M. Ernzerhof, Phys. Rev. Lett, vol.77, p.3865, 1996.

J. P. Perdew, K. Burke, and M. Ernzerhof, Phys. Rev. Lett, vol.78, p.1396, 1997.

G. Kresse and J. Hafner, Phys. Rev. B, vol.47, p.558, 1993.

G. Kresse and D. Joubert, Phys. Rev. B, vol.59, p.1758, 1999.

J. P. Perdew, A. Ruzsinszky, G. I. Csonka, O. A. Vydrov, G. E. Scuseria et al., Phys. Rev. Lett, vol.100, p.136406, 2008.

J. P. Perdew, A. Ruzsinszky, G. I. Csonka, O. A. Vydrov, G. E. Scuseria et al., Phys. Rev. Lett, vol.102, p.39902, 2009.

G. I. Csonka, J. P. Perdew, A. Ruzsinszky, P. H. Philipsen, S. Lebègue et al., Phys. Rev. B, vol.79, p.155107, 2009.

F. Tran and P. Blaha, Phys. Rev. Lett, vol.102, p.226401, 2009.

L. Hedin, Phys. Rev, vol.139, p.796, 1965.

V. I. Anisimov, F. Aryasetiawan, and A. I. Lichtenstein, Journal of Physics: Condensed Matter, vol.9, p.767, 1997.

S. Shamoto, K. Kodama, S. Iikubo, T. Taguchi, N. Yamada et al., Jpn. J. Appl. Phys, vol.45, p.8789, 2006.

B. E. Gordon, W. E. Temmerman, and B. L. Gyorffy, J. Phys. F, vol.11, p.821, 1981.

B. Wiendlocha, Phys. Rev. B, vol.88, p.205205, 2013.

W. Yu, V. Mauchamp, T. Cabioch, D. Magne, L. Gence et al., Acta Materialia, vol.80, p.421, 2014.

R. Fallica, J. Battaglia, S. Cocco, C. Monguzzi, A. Teren et al., Journal of Chemical & Engineering Data, vol.54, p.1698, 2009.

W. K. Njoroge, H. Wöltgens, and M. Wuttig, J. Vac. Sci. Technol. A, vol.20, p.230, 2002.

I. Friedrich, V. Weidenhof, W. Njoroge, P. Franz, and M. Wuttig, J. Appl. Phys, vol.87, p.4130, 2000.

A. Chen, G. Weisz, and A. Sher, Phys. Rev. B, vol.5, p.2897, 1972.

W. H. Butler and G. M. Stocks, Phys. Rev. B, vol.29, p.4217, 1984.