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Conference papers

Nouvelles composantes informatives pour le diagnostic de fautes des procédés industriels par classification supervisée

Résumé : Cet article présente une méthode pour le diagnostic des procédés industriels. Nous sommes intéressés par le diagnostic de fautes perçue comme une classification supervisée. L'intérêt de la méthode proposée est de prendre en compte de nouvelles composantes (et donc de nouvelles informations) dans le classifieur. Ces nouvelles composantes sont des probabilités extraites d'un réseau Bayésien comparant les données de fautes aux données normales de fonctionnement. Les performances de cette méthode sont évaluées sur les données d'un problème benchmark : le Tennessee Eastman Process. Trois types de fautes sont prises en comptes sur ce procédé complexe. Nous montrons sur cet exemple que l'addition de ces nouvelles composantes permet de faire décroître le taux de mauvaises classifications.
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https://hal.inria.fr/inria-00517049
Contributor : Sylvain Verron <>
Submitted on : Monday, September 13, 2010 - 2:19:09 PM
Last modification on : Thursday, May 20, 2021 - 11:46:02 PM
Long-term archiving on: : Tuesday, December 14, 2010 - 2:50:25 AM

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  • HAL Id : inria-00517049, version 1

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Sylvain Verron, Teodor Tiplica, Abdessamad Kobi. Nouvelles composantes informatives pour le diagnostic de fautes des procédés industriels par classification supervisée. 6ème Conférence Internationale Francophone d'Automatique (CIFA'10), 2010, Nancy, France. ⟨inria-00517049⟩

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