A detection based framework for systematic analysis of dual color TIRF microscopy

Type de document :
Communication dans un congrès
Focus on Microscopy (FOM'10), Mar 2010, Shangai, China. 2010
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https://hal.inria.fr/inria-00541107
Contributeur : Charles Kervrann <>
Soumis le : lundi 29 novembre 2010 - 18:35:15
Dernière modification le : mercredi 11 avril 2018 - 01:53:22

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  • HAL Id : inria-00541107, version 1

Citation

Anatole Chessel, Bertrand Cinquin, François Waharte, Charles Kervrann, Jean Salamero. A detection based framework for systematic analysis of dual color TIRF microscopy. Focus on Microscopy (FOM'10), Mar 2010, Shangai, China. 2010. 〈inria-00541107〉

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