Off-line Test Selection with Test Purposes for Non-Deterministic Timed Automata. - Inria - Institut national de recherche en sciences et technologies du numérique Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2011
Fichier non déposé

Dates et versions

inria-00629177 , version 1 (05-10-2011)

Identifiants

  • HAL Id : inria-00629177 , version 1

Citer

Nathalie Bertrand, Thierry Jéron, Amélie Stainer, Moez Krichen. Off-line Test Selection with Test Purposes for Non-Deterministic Timed Automata.. 17th International Conference on Tools and Algorithms for the Construction and Analysis of Systems (TACAS'11), Mar 2011, Saarbrücken, Germany. pp. 96-111. ⟨inria-00629177⟩
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