Test Intégré de Circuits Digitaux : Comparaison de deux types de Séquences de Test
Résumé
L'étude présentée dans ce papier est une analyse des capacités de détection de fautes associées aux séquences de vecteurs adjacents (ou SIC pour Single Input Change) et non adjacents (ou MIC pour Multiple Input Change), dans le cadre du test intégré. Cette efficacité est exprimée en terme de couverture de fautes sur les modèles de collage, de court-circuit et de délai de chemin.
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TEST_INTEGRE_DE_CIRCUITS_DIGITAUX_COMPARAISON_DE_D.pdf (68.27 Ko)
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