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tel-00156570v1  Thèse
Sana BelmokhtarLignes d'usinage avec équipements standard : modélisation, configuration et optimisation
Sciences de l'ingénieur [physics]. Ecole Nationale Supérieure des Mines de Saint-Etienne, 2006. Français
emse-00554762v1  Communication dans un congrès
Alain CasaliChristian ErnstA KDD Model to Discover Correlated Parameters in Semiconductor Manufacturing Processes
10th European Conference on Advanced Equipment Control / Advanced Process Control, Apr 2010, Catania, Italy
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emse-00921635v1  Communication dans un congrès
Christian ErnstAlain CasaliExtracting correlated parameters on multicore architectures
CD-ARES 2013, Sep 2013, Regensburg, Italy. Springer, pp 118-133, 2013, LNCS
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emse-00921628v1  Communication dans un congrès
Christian ErnstAlain CasaliMulticore Mining of Correlated Patterns
IARIA. IMMM 2013, Nov 2013, Lisboa, Portugal. pp 18-23, 2013
emse-00648333v1  Communication dans un congrès
Christian ErnstAlain CasaliData Preparation in the MineCor KDD Framework
IMMM 2011 : The First International Conference on Advances in Information Mining and Management ISBN: 978-1-61208-162-5, Oct 2011, Barcelona, Spain. pp 16-22, 2011
hal-01316174v1  Communication dans un congrès
Marc DanielJean-Michel KobusClaudette SayettatArtificial Intelligence technics in CAD for fishing boats
ORIA 1987 "Artificial Intelligence and Sea", Jun 1987, Marseille, France
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tel-00366586v1  Thèse
Thierry MurgueExtraction de données et apprentissage automatique pour les sites web adaptatifs
Autre [cs.OH]. Ecole Nationale Supérieure des Mines de Saint-Etienne; Université Jean Monnet - Saint-Etienne, 2006. Français
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tel-01258912v1  Thèse
Alexandru SoriciMulti-Agent Context Management in Support of Ambient Intelligence Applications
Other [cs.OH]. Ecole Nationale Supérieure des Mines de Saint-Etienne, 2015. English. < NNT : 2015EMSE0790 >
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emse-00742962v1  Article dans une revue
Christian ErnstAlain CasaliDiscovering correlated parameters in Semiconductor Manufacturing processes: a Data Mining approach
IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing, Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2012, 25 (1), pp.118-127. <10.1109/TSM.2011.2171375>