Cet article présente une reformulation et extension au diagnostic des méthodes algébrique développées pour l'identification des systèmes linéaires (Fliess and Sira-Ramirez [2003]). En exploitant les outils et résultats de l'analyse pseudo-spectrale, une approche est proposée pour la génération d'indicateurs de défaut. Le principal atout de cette approche est qu'il est possible, sous certaines hypothèses, de détecter, localiser et identifier les défauts uniquement à partir des mesures de la commande et celles de la sortie sans identifier explicitement un modèle. Un exemple numérique est fourni et commenté afin d'illustrer l'approche proposée.