BRDF Measurements and Analysis of Retroreflective Materials

Laurent Belcour 1 Romain Pacanowski 2, 1 Marion Delahaie 3 Aude Laville-Geay 3 Laure Eupherte 3
1 MANAO - Melting the frontiers between Light, Shape and Matter
LaBRI - Laboratoire Bordelais de Recherche en Informatique, Inria Bordeaux - Sud-Ouest, LP2N - Laboratoire Photonique, Numérique et Nanosciences
3 CEA/CESTA
CESTA - Centre d'études scientifiques et techniques d'Aquitaine
Abstract : We compare performance of various analytical retroreflecting BRDF models to assess how they reproduce accurately measured data of retroreflecting materials. We introduce a new parametrization, the back vector parametrization, to analyze retroreflecting data and we show that this parametrization better preserves the isotropy of data. Furthermore, we update existing BRDF models to improve the representation of retroreflective data.
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Journal of the Optical Society of America, Optical Society of America, 2014, JOSA A, 31 (12), pp.2561-2572. <http://dx.doi.org/10.1364/JOSAA.31.002561>
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Contributeur : Romain Pacanowski <>
Soumis le : mardi 6 janvier 2015 - 10:21:46
Dernière modification le : jeudi 9 février 2017 - 15:24:05
Document(s) archivé(s) le : mercredi 3 juin 2015 - 17:11:09

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Laurent Belcour, Romain Pacanowski, Marion Delahaie, Aude Laville-Geay, Laure Eupherte. BRDF Measurements and Analysis of Retroreflective Materials. Journal of the Optical Society of America, Optical Society of America, 2014, JOSA A, 31 (12), pp.2561-2572. <http://dx.doi.org/10.1364/JOSAA.31.002561>. <hal-01083366>

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