A new Kernel Trick Embedded Discriminant model for fault detection and diagnosis - Inria - Institut national de recherche en sciences et technologies du numérique Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2021

A new Kernel Trick Embedded Discriminant model for fault detection and diagnosis

Domaines

Sciences de l'ingénieur [physics]

M Atoui  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://inria.hal.science/hal-03175812

Soumis le : dimanche 21 mars 2021-13:50:15

Dernière modification le : mercredi 7 février 2024-08:57:25

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-03175812 , version 1 (21-03-2021)

Identifiants

  • HAL Id : hal-03175812 , version 1

Citer

Chuyue Lou, Mohamed Amine Atoui, Xiangshun Li. A new Kernel Trick Embedded Discriminant model for fault detection and diagnosis. Chinese Control and Decision Conference, May 2021, Kunming, China. ⟨hal-03175812⟩

Exporter

BibTeX XML-TEI Dublin Core DC Terms EndNote DataCite

Collections

UNIV-BREST INSTITUT-TELECOM CNRS LAB-STICC_UBO ENIB LAB-STICC
35 Consultations
0 Téléchargements

Partager

Gmail Facebook X LinkedIn More