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Conference papers

Détection et localisation de défauts multiples par analyse en composantes principales

Résumé : L'Analyse en Composantes Principales (ACP) est une méthode réputée efficace pour la compression d'information. Cette communication présente l'utilisation de l'ACP pour la détection et la localisation de défauts multiples de mesures à partir d'un principe de reconstruction de variables et d'analyse des projections de ces reconstructions dans l'espace dit résiduel.
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https://hal.inria.fr/inria-00386651
Contributor : Conférence Jds2009 <>
Submitted on : Friday, May 22, 2009 - 9:09:24 AM
Last modification on : Friday, October 23, 2020 - 8:38:04 AM
Long-term archiving on: : Monday, October 15, 2012 - 10:53:47 AM

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  • HAL Id : inria-00386651, version 1

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Yvon Tharrault, Mohamed-Faouzi Harkat, Gilles Mourot, José Ragot. Détection et localisation de défauts multiples par analyse en composantes principales. 41èmes Journées de Statistique, Société Française de Statistique, May 2009, Bordeaux, France. pp.CDROM. ⟨inria-00386651⟩

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