Détection et localisation de défauts multiples par analyse en composantes principales - Inria - Institut national de recherche en sciences et technologies du numérique Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2009

Détection et localisation de défauts multiples par analyse en composantes principales

Résumé

L'Analyse en Composantes Principales (ACP) est une méthode réputée efficace pour la compression d'information. Cette communication présente l'utilisation de l'ACP pour la détection et la localisation de défauts multiples de mesures à partir d'un principe de reconstruction de variables et d'analyse des projections de ces reconstructions dans l'espace dit résiduel.
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Dates et versions

inria-00386651 , version 1 (22-05-2009)

Identifiants

  • HAL Id : inria-00386651 , version 1

Citer

Yvon Tharrault, Mohamed-Faouzi Harkat, Gilles Mourot, José Ragot. Détection et localisation de défauts multiples par analyse en composantes principales. 41èmes Journées de Statistique, Société Française de Statistique, May 2009, Bordeaux, France. pp.CDROM. ⟨inria-00386651⟩
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