Détection et localisation de défauts multiples par analyse en composantes principales

Résumé : L'Analyse en Composantes Principales (ACP) est une méthode réputée efficace pour la compression d'information. Cette communication présente l'utilisation de l'ACP pour la détection et la localisation de défauts multiples de mesures à partir d'un principe de reconstruction de variables et d'analyse des projections de ces reconstructions dans l'espace dit résiduel.
Type de document :
Communication dans un congrès
41èmes Journées de Statistique, May 2009, Bordeaux, France. pp.CDROM, 2009
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Contributeur : Conférence Jds2009 <>
Soumis le : vendredi 22 mai 2009 - 09:09:24
Dernière modification le : jeudi 11 janvier 2018 - 06:17:36
Document(s) archivé(s) le : lundi 15 octobre 2012 - 10:53:47

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Yvon Tharrault, Mohamed-Faouzi Harkat, Gilles Mourot, José Ragot. Détection et localisation de défauts multiples par analyse en composantes principales. 41èmes Journées de Statistique, May 2009, Bordeaux, France. pp.CDROM, 2009. 〈inria-00386651〉

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