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Conference papers

Une approche de la démonstration de fiabilité système à partir de tests sur composants unitaires: cas d'un système en série avec lois de Weibull

Résumé : Démontrer un objectif de fiabilité est souvent une nécessité pour les industriels répondant à des appels d'offre de plus en plus exigeants. Quand l'objectif de fiabilité requis se place au niveau du système global, la simple utilisation des normes de calcul pour la démonstration de fiabilité pour chaque sous-système doit être revue pour intégrer chaque test dans un ensemble. Il n'est pas rare de demander des fiabilités de l'ordre de 0.999 sur chaque sous-système pour garantir que la fiabilité système dépasse 0.8 (à horizon donné). Nous proposons une approche dont le but est de déterminer les temps de test permettant de valider que la fiabilité d'un système en série (définie en terme de quantile de probabilité) est supérieure à une valeur objective à partir de k tests unitaires sur composants en évitant le calcul, trop conservateur, du produit des niveaux de confiance.
Document type :
Conference papers
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https://hal.inria.fr/inria-00386752
Contributor : Conférence Jds2009 <>
Submitted on : Friday, May 22, 2009 - 9:18:24 AM
Last modification on : Wednesday, June 20, 2018 - 3:54:06 PM
Long-term archiving on: : Thursday, June 10, 2010 - 11:41:25 PM

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p182.pdf
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  • HAL Id : inria-00386752, version 1

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Citation

Léo Gerville-Réache, Vincent Couallier. Une approche de la démonstration de fiabilité système à partir de tests sur composants unitaires: cas d'un système en série avec lois de Weibull. 41èmes Journées de Statistique, SFdS, Bordeaux, 2009, Bordeaux, France, France. ⟨inria-00386752⟩

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