Fine Grained Traceability for an MDE Approach of Embedded System Conception

Flori Glitia Anne Etien 1 Cedric Dumoulin 1
1 DART - Contributions of the Data parallelism to real time
LIFL - Laboratoire d'Informatique Fondamentale de Lille, Inria Lille - Nord Europe
Type de document :
Communication dans un congrès
ECMDA Traceability Workshop, Jun 2008, Berlin, Germany. pp.27--38, 2008
Liste complète des métadonnées
https://hal.inria.fr/inria-00524367
Contributeur : Mister Dart <>
Soumis le : jeudi 7 octobre 2010 - 16:52:14
Dernière modification le : jeudi 29 mars 2018 - 16:18:07

Identifiants

  • HAL Id : inria-00524367, version 1

Collections

INRIA | CRISTAL | UNIV-LILLE3

Citation

Flori Glitia, Anne Etien, Cedric Dumoulin. Fine Grained Traceability for an MDE Approach of Embedded System Conception. ECMDA Traceability Workshop, Jun 2008, Berlin, Germany. pp.27--38, 2008. 〈inria-00524367〉

Exporter

BibTeX TEI DC DCterms EndNote

Partager

Métriques

Consultations de la notice

300

Contact


archive-ouverte@inria.fr