Utilisation de la technologie RFID chipless pour la mesure de déformation de réflecteurs
Résumé
no abstract
Communication Dans Un Congrès
Année : 2013
Valence Lcis : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://inria.hal.science/hal-01057165
Soumis le : jeudi 21 août 2014-15:54:08
Dernière modification le : jeudi 4 avril 2024-21:32:05
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-01057165 , version 1
Citer
Emna Bel-Kamel, Etienne Perret, Arnaud Vena, Smail Tedjini. Utilisation de la technologie RFID chipless pour la mesure de déformation de réflecteurs. 18èmes Journées Nationales Microondes, May 2013, Paris, France. ⟨hal-01057165⟩
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